스마트폰 카메라 부품 전문기업 액트로가 이달 27일부터 5일간 인천 송도컨벤시아에서 개최하는 세계비파괴검사학술대회(WCNDT) 2024에 참가해 글라스기판 검사기법 등 자체 개발한 테라헤르츠(Thz)검사기를 활용한 다양한 검사기법을 소개합니다.
세계비파괴검사학술대회(WCNDT)는 국제비파괴검사학회가 주관하여 4년 주기로 대륙을 순환하며 개최하는 비파괴검사 분야 세계 최대규모 행사입니다.
학계 및 산업계 인사들이 대거 참가해 비파괴검사 관련 단체의 국제협력, 학문 및 산업발전을 도모하는 자리입니다.
이번 제 20차 WCNDT에는 약 70개국에서 3000여명의 인원이 참석하며, 국제학술포럼(발표논문 1,000편), 산업박람회(전시부스 약 400개), 국제회의, 노벨상수상자 초청강연, 문화행사 등 일정이 마련됩니다.
액트로는 이번 학술대회에서 자체 개발한 비접촉/비파괴 방식 검사기인 테라헤르츠(Thz) 검사기를 선보일 예정입니다.
특히 이번에는 기존의 반도체 패키지 및 2차전지용 분리막 기공측정기술과 더불어 최근 AI열풍 등으로 투자확대 및 많은 수요가 예상되는 반도체용 글라스기판 검사에 액트로가 자체개발한 테라헤르츠(Thz) 검사기를 활용하는 방안을 제시할 예정이라고 전했습니다.
액트로 관계자는 “이번 박람회를 통해 액트로의 설비 제작 노하우를 살린 검사기 제품을 소개하고자 WCNDT에 참가했다"면서 "비파괴검사 분야 최대 행사에서 많은 기회를 찾을 수 있을 것으로 기대한다”고 말했습니다.
이어 “1분기에 사상 최대 실적을 올린 만큼, 올해 액추에이터 사업은 순항할 것으로 전망하고 있다. 기존 사업의 호조에 힘입어 신규 사업도 더욱 적극적으로 추진해나갈 예정”이라고 덧붙였습니다.
